Дата публикации: 20.02.2019
Код конкурса: мк
Год конкурса: 2019
На конкурс лучших научных проектов междисциплинарных фундаментальных исследований 2019 г. по теме «Фундаментальные проблемы создания элементной базы энергонезависимой резистивной памяти для нейроморфных систем» поступила 61 заявка.
Руководитель | Номер проекта | Название проекта |
Абгарян К. К. | 19-29-03051 | Многомасштабное моделирование работы многоуровневых элементов памяти в качестве синапсов и разработка программного обеспечения для систем с механизмом параллельных вычислений, необходимых для создания нейроморфных сетей. |
Агеев Э. И. | 19-29-03065 | Исследование металлодиэлектрических метаповерхностей для применения в качестве элементов энергонезависимой памяти |
Аликин Д. О. | 19-29-03060 | Взаимосвязь резистивного переключения и переключения поляризации в тонких сегнетоэлектрических плёнках RFeO3 (R = Bi, Lu) |
Алёшин А. Н. | 19-29-03003 | Исследование влияния физико-химического воздействия на воспроизводимость основных электрических параметров мемристорных структур. |
Андреева Н. В. | 19-29-03005 | Управляемое многоуровневое переключение сопротивления в гетерогенных металлооксидных структурах. Физико-технологические основы. |
Асваров А. Ш. | 19-29-03027 | Разработка новых материалов и технологий для аддитивного формирования мемристорных устройств и исследование вакансионного механизма резистивного переключения в них |
Афанасьев М. С. | 19-29-03042 | Исследования свойств структур металл-диэлектрик-полупроводник и металл-диэлектрик-металл на основе сегнетоэлектрических пленок различных составов для возможности реализации высоконадежных энергонезависимых ячеек памяти |
Барабан А. П. | 19-29-03016 | Управляемое дефектообразование в оксидах металлов для реализации обратимых резистивных переключений |
Бегинин Е. Н. | 19-29-03034 | Многоуровневые магнонные сети с управляемыми локальными деформациями элементами межсоединений для обработки информационного сигнала на нейроморфных принципах |
Белов А. И. | 19-29-03039 | Исследование механизмов физико-химических процессов на интерфейсах в мемристивных наноструктурах металл/оксид/металл, определяющих параметры элементов памяти на их основе |
Белов А. Н. | 19-29-03055 | Установление физико-химических механизмов резистивного переключения в полупроводниковых слоях для создания на их основе искусственных синаптических структур. |
Божко С. И. | 19-29-03021 | Исследование механизмов резистивных переключений для разработки высокоскоростных мемристоров. |
Бойцова О. В. | 19-29-03064 | Нейроморфные термоэлектрические схемы на основе тонкопленочных мемристорных элементов VO2 |
Вайнштейн И. А. | 19-29-03019 | Механизмы мемристивного переключения в слоистых структурах на основе нанотубулярных диоксидов циркония и титана с анионным дефицитом |
Валеев Р. Г. | 19-29-03020 | Физико-химическое изучение процессов изменения резистивного состояния мемристивных структур на основе оксидов металлов и слоистых двумерных соединений |
Вербенко И. А. | 19-29-03061 | Мемристорный эффект в бессвинцовых сложных оксидах со структурой перовскита |
Гейдт П. В. | 19-29-03066 | Разработка методов характеризации наноразмерных элементов резистивной памяти |
Гороховский А. В. | 19-29-03028 | Физические принципы работы элементов резистивной памяти (RRAM) на основе голландитоподобных структур состава Kx(Ti8-у,Meу)8O16-δ |
Горшков О. Н. | 19-29-03026 | Мемристорные структуры на основе эпитаксиальных слоев SiGe для энергонезависимой резистивной памяти и нейроморфных приложений |
Дроздов К. А. | 19-29-03044 | Резистивные переключения в композитных структурах на основе фталоцианиновых коплексов |
Дубков А. А. | 19-29-03046 | Моделирование стохастической динамики многоуровневых мемристивных устройств как элементов нейроморфных систем, основанное на физике микроскопических явлений в структурах «металл-оксид-металл» |
Ерохин В. В. | 19-29-03057 | Мемристивные элементы из полисопряженных органических полупроводниковых функциональных материалов для аппаратной реализации модельных биологически правдоподобных нейроморфных сетей |
Ефремов А. М. | 19-29-03001 | Разработка фундаментальных основ вакуумно-плазменных технологий элементной базы и оптимизации структурных параметров мемристорных устройств |
Зенкевич А. В. | 19-29-03045 | Создание научных основ резистивной встроенной энергонезависимой памяти на основе функциональных слоев оксидов тантала, гафния и кремния, сформированных магнетронным осаждением. |
Иржак Д. В. | 19-29-03007 | Исследования механизмов переключения и влияния ростовых и внесенных дефектов на изменение сопротивления элементов памяти на основе оксидов металлов |
Исламов Д. Р. | 19-29-03009 | Элементы резистивной памяти на основе оксидов циркония, не требующие стадии формовки |
Ковешников С. В. | 19-29-03035 | Исследование механизма образования проводящего филамента и процессов переключения в элементах резистивной памяти на основе оксидов металлов |
Козлов А. И. | 19-29-03053 | Исследование многослойных нано- и микроструктур, поверхности и объема полупроводниковых материалов после воздействия лазерного излучения в мозаичной технологии создания мозаичных матриц памяти терабитного масштаба |
Колпаков В. А. | 19-29-03014 | Разработка физических основ формирования мемристорных структур в низкотемпературной плазме высоковольтного газового разряда |
Королев Д. С. | 19-29-03040 | Разработка элементов энергонезависимой оптической памяти на основе интегрированных полосковых волноводов с переключаемой прозрачностью |
Крыжановский Б. В. | 19-29-03030 | Поиск физических, технологических и схемотехнических нейросетевых решений на основе мемристорных кроссбаров. |
Кузьмина А. С. | 19-29-03033 | Исследование влияния легирующих примесей и ростовых дефектов на электрические и магнитные свойства тонких плёнок ZnO, перспективных для разработки энергонезависимых устройств памяти нового поколения |
Кухарская Н. Ф. | 19-29-03024 | Развитие прецизионных методов физической диагностики структур металл-диэлектрик-полупроводник - основы СВЧ-транзисторов, туннельных диодов и элементов памяти |
Левашов С. А. | 19-29-03025 | Исследования проводимости и перестраиваемости примесной поверхностной электронной зоны, образованной ионами у границы раздела кремний-окисел, в структурах металл-диэлектрик-полупроводник с целью возможности создания нового типа многоуровневой памяти |
Мальцев П. П. | 19-29-03008 | Исследование физико-химических факторов, препятствующих достижению надежности мемристорных структур. |
Маркеев А. М. | 19-29-03038 | Разработка и создание бесформовочного самоселективного элемента оксидной резистивной памяти с привлечением метода атомно-слоевого осаждения для трехмерной вертикальной ReRAM высокой плотности |
Морозова М. А. | 19-29-03049 | Физико-технологические основы энергонезависимых элементов памяти с совмещением в одном чипе многофункциональных устройств на принципах сегнетоэлектричества и спинтроники для нейроморфных систем |
Нарышкина В. Г. | 19-29-03023 | Диагностика гетерограниц диэлектрик - полупроводник на основе изолирующих окислов с высокой диэлектрической проницаемостью для формирования на их основе элементов памяти |
Николайчик В. И. | 19-29-03010 | Оптимизация приборных структур и поиск новых материалов для реализации мемристорных ячеек памяти с малым разбросом электрических параметров |
Новодворский О. А. | 19-29-03032 | Лазерный синтез мемристорных структур на основе оксидов переходных металлов V, Nb, Ta в кроссбар-геометрии и реализация основных аппаратных элементов нейроморфных систем нейристора и синаптора на их основе. |
Орлов О. М. | 19-29-03018 | Физические принципы многоуровневых мемристоров на основе нитрида кремния для нейроморфных применений и энергонезависимой памяти нового поколения |
Панин Г. Н. | 19-29-03050 | Энергонезависимая многоуровневая фоторезистивная память на основе оксида графена и родственных низкоразмерных материалов |
Подорожкин Д. Ю. | 19-29-03002 | Влияние дефектов на изменение сопротивления и электронных свойств мемристоров на основе оксидов галлия, титана и ниобия, а также оксидов титана и ниобия, легированных галлием |
Русаков С. Г. | 19-29-03012 | Разработка для осцилляторных нейронных сетей на мемристорах перспективных схемотехнических решений нейронных и синаптических элементов и методов моделирования осцилляторных ансамблей. |
Рыбин М. В. | 19-29-03056 | Многоуровневые элементы оптической памяти на основе халькогенидных материалов с фазовой памятью |
Рябцев С. В. | 19-29-03063 | Резистивное переключение в наноструктурах на основе металлоксидных слоев и разработка технологии изготовления мемристорных материалов с управляемой нестехиометрией |
Сарнацкий В. М. | 19-29-03006 | Построение мемристорных запоминающих устройств с использованием халькогенидов переходных металлов. |
Сафин А. Р. | 19-29-03015 | Исследование возможности создания новой элементной базы нейроморфных процессоров на основе сетей спинтронных осцилляторов и магнитных волноведущих структур |
Серегин Д. С. | 19-29-03058 | Сегнетоэлектрические перовскиты и композиты для устройств энергонезависимой памяти |
Ситников А. В. | 19-29-03022 | Многоуровневый мемристивный элемент на базе наногранулированного магнитного композита со встроенной оксидной прослойкой: механизмы переключения, роль атомарной фазы в изолирующей матрице |
Смирнов А. С. | 19-29-03036 | Селективное травление нитрида кремния ВЧ разрядом смеси SF6/H2/He/Ar |
Смирнов В. А. | 19-29-03041 | Мемристорные структуры, не требующие формовки, на основе оксидов металлов для сверхбыстродействующих элементов энергонезависимой памяти |
Соболев Н. А. | 19-29-03059 | Физические принципы резистивного переключения в структурах на основе кремний-углеродной матрицы. |
Титов М. Л. | 19-29-03029 | Антиферромагнитные материалы как основа элементной базы нейроморфных устройств |
Третьяков И. В. | 19-29-03017 | Энергонезависимые многоуровневые элементы памяти на основе оксидированного CVD графена (GO) для нейроморфных вычислительных технологий. |
Тулин В. А. | 19-29-03011 | Исследование и разработка функциональных свойств селенидов металлов в мемристорных структурах для применения в электронике. |
Тысченко И. Е. | 19-29-03031 | Логические элементы и архитектура микросхем хранения и обработки информации с искусственным интеллектом на основе двухзатворных сегнетоэлектрических транзисторов |
Хартон В. В. | 19-29-03048 | Механизмы дефектообразования, переноса и эффектов памяти в оксидных системах с перовскитоподобными и слоистыми структурами |
Чарная Е. В. | 19-29-03004 | Мемристорные элементы на основе нанокомпозитов с новыми органическими сегнетоэлектриками |
Чуприк А. А. | 19-29-03047 | Влияние распределения электрического поля на стабильность характеристик мемристора |
Юдин Д. И. | 19-29-03013 | Квантовые нейроморфные системы на основе магнитных материалов и их приложения |